MIČULKA, Martin. Tomografická analýza polovodičových struktur metodou FIB-SIMS. Online, Bakalářská práce, vedoucí Petr Bábor. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství, 2020. Dostupné z: http://hdl.handle.net/11012/192261. [cit. 2025-04-28].